H500-портативный рентгеновский анализатор флуоресценции

Просто лучшее

Ваш портативный анализатор сплава металла, который идет куда угодно

Мгновенные результаты для сканера Metal ID и проверки класса сплава

Неразрушающих элементов анализа с быстрой, простой отчетности и генерации сертификатов

Надежный промышленный дизайн практически для любых погодных условий, полевых условий

Одна технология, мир приложений

Справочная информация и введение

Подсистема светового пути отвечает за испускаемые, получающие и подсчитывая фотоны XRF. Его работа заключается в следующем. Высоковольтный источник питания обеспечивает высоковольтную энергию рентгеновской трубки, которая стимулируется к испускаемому первичному рентгеновскому снимку. Первичный рентгеновский снимок проходит через окно Be, фильтр и коллиматор, наконец облучая образец. Образец стимулируется к испускать XRF, которые могут быть распознаются детектором. Полученный XRF преобразуется в низковольтный импульс преамплификатором. Амплитуда импульса, строго пропорциональная энергии полученного XRF, еще больше усиливается основным усилителем. Аналоговый цифровой преобразователь преобразует усиленное напряжение в цифровой сигнал. Цифровой сигнал далее формируется, сортируется и преобразуется в импульсный счетчик с информацией об амплитуде. Эта информация хранится в многоканальном анализаторе в соответствии с его амплитудой и, наконец, отформатирована к спектральной линии XRF. Детектор передает спектральную информацию на ПК через USB-концентратор в схеме управления для качественного и количественного анализа.

Типичные приложения:

Применение искусства и антиквариата

Кураторы музея, искусствоведы и археологи должны постоянно быть бдительными к подделкам. XRF является отличным инструментом для них, поскольку он может определить конкретный элементарный состав редких и ценных предметов, не повреждая их.

Химические применения

Химический и нефтехимический рынок предлагает широкий спектр применений. Хотя многие процессы связаны с органией, которые не легко измеряются XRF, Есть много случаев, когда соли или металлы имеют важное значение.

Покрытия и тонкие приложения пленки

Надлежащий контроль качества толщины покрытия имеет важное значение для покрытий компаний и металлоконструкций, которые применяют покрытия, а также влияют на компании, которые используют покрываемые компоненты в своих промышленных товаров.

Косметические приложения

В процессе производства, косметика должна быть химически проанализирована для обеспечения соответствия спецификации продукта и безопасности, а также экономически эффективного производства.

Экологические приложения

Существуют многочисленные правила, которые ограничивают количество токсичных соединений и металлов, которые могут быть выпущены в атмосферу. XRF поддается многим важным аналитическим приложениям в поддержку этих правил.

Образовательные приложения

Современные исследования связаны с разработкой новых форм диагностики для различных целей. Лабораториям нужны решения, устройства и методы, которые обеспечивают точные и надежные результаты на очень высоком уровне производительности.

Приложения для электроники (RoHS / WEEE)

XRF предлагает эффективные решения для аналитических требований по определению регулируемых веществ в электрическом и электронном оборудовании в соответствии с Европейской директивой RoHS (Ограничение опасных веществ в электрическом и электронном оборудовании) и WEEE (Отходы электрического и электронного оборудования).

Пищевые продукты и напитки Приложения

Еда это рынок, который предлагает много возможностей для XRF. Образцы могут быть измерены как свободные порошки или нажата в гранулы и готовы к измерению в течение нескольких секунд.

Судебно-медицинская экспертиза

Судебно-медицинские эксперты, как правило, требуют быстрого и неразрушательного анализа очень широкого спектра материалов. Часто эти материалы представлены в очень небольшом количестве, как доказательства, собранные с места преступления.

Контроль за морскими выбросами

ИМО (Международная морская организация) постоянно устанавливает новые стандарты, с тем чтобы свести к минимуму и контролировать вредные загрязняющие выхлопные газы от судовые двигатели. ИМО является крупнейшей в мире морской организацией с более чем 170 государствами-членами и выступает в качестве регулирующего органа для международной морской промышленности.

Технические характеристики

Аналитический метод	Энергетическая диспергативная рентгеновская флуоресценция
КПК с сенсорным экраном	Процессор: 1G, Системная память: 1G, стандартные данные массового хранения 4G, расширенная сохраненная максимальная поддержка до 32G, Большой LCD сенсорный экран, разрешение 1820x720
Интеллектуальный анализ	Автоматический режим выбора теста на основе матрицы образца
Источник возбуждения	50KV/200-А - Ag / Rh конец окна интегрированы миниатюрные рентгеновские трубки и высоковольтного питания
Коллиматор и фильтр	Множественный коллиматор и фильтры с функциями автоматического переключения
Детектор	Детектор силиконового дрейфа (SDD)
Разрешение детектора	До 125eV
Состояния выборки	Твердые тела, жидкости, порошки
Элементарный диапазон	Атомные числа между 12 (Mg) и 92 (U)
Предел обнаружения	1 - 500ppm, в зависимости от элемента и образца матрицы
Время анализа	3-60 секунд
Одновременный анализ	Отображает до 40 элементов одновременно
Диапазон отображения	промилле - 99,99%
Система просмотра образцов	Интегрированная камера высокого разрешения
Связь	USB, GPS, Wi-Fi или Bluetooth
Безопасности	Автоматическое отключение рентгеновской трубки, рамы прибора Pb-подкладка, уровни радиации в рамках международных стандартов безопасности
Питания	Аккумулятор Li, стандартный 9000mAh, обеспечивает до 12 часов работы на одной зарядке; 110/220V универсальный адаптер для зарядки
Температура	-20oC до 50oC
Влажности	≤90%
Вес	1,75 кг

Испытательная производительность нержавеющей стали-304

Модель инструмента:H-500 Портативный анализатор XRF					Образец:	Нержавеющая сталь 304
Время тестирования:	30 секунд
Нет. чтения	Кривая калибровки	Cr %	Mn %	Fe %	Ni %	Cu %	Mo %
1	Сталь высокого сплава	17.8484	0.8871	70.2261	8.2304	1.1098	0.3151
2	Сталь высокого сплава	17.9418	0.8782	70.1690	8.1422	1.1211	0.3097
3	Сталь высокого сплава	17.9252	0.8940	70.1620	8.2246	1.0738	0.3086
4	Сталь высокого сплава	18.0137	0.8337	70.1849	8.1379	1.0879	0.3101
5	Сталь высокого сплава	17.9364	0.8591	70.2790	8.1450	1.1100	0.3099
6	Сталь высокого сплава	17.9263	0.9088	70.1902	8.1731	1.0923	0.3071
7	Сталь высокого сплава	17.9067	0.8816	70.1512	8.2390	1.0682	0.3129
8	Сталь высокого сплава	17.9419	0.8928	70.1078	8.1966	1.1087	0.3103
9	Сталь высокого сплава	17.9442	0.8939	70.1469	8.2223	1.0789	0.3113
10	Сталь высокого сплава	17.9174	0.8746	70.1914	8.2374	1.1209	0.3090
Диапазоны		0.165	0.075	0.171	0.101	0.053	0.008
Средняя		17.930	0.880	70.181	8.195	1.097	0.310
Стандартное отклонение Sn		0.0407	0.0212	0.0469	0.0417	0.0195	0.0023
Rsd		0.227%	2.408%	0.067%	0.509%	1.777%	0.731%

Тест производительность тяжелых металлов в почве

Модель инструмента :		H-500
Подразделение: PPM		Время тестирования: 100 секунд					Тестовый образец: Стандартный образец почвы
Нет. Чтение	Калибровки Кривой	V	Cr	Co	Ni	Cu	Zn	Как	Pb	Cd
1	Почвы	96.2	64.6	16.0	20.5	26.0	695.1	54.3	116.3	5.0
2	Почвы	96.0	67.5	16.3	25.4	28.1	688.8	52.1	118.4	4.4
3	Почвы	99.0	69.3	16.3	23.6	29.2	683.7	55.5	116.7	4.9
4	Почвы	96.1	63.6	16.4	21.7	28.1	692.1	54.5	119.1	4.7
5	Почвы	98.6	66.4	16.3	28.0	25.2	689.8	51.5	118.8	4.5
6	Почвы	93.8	66.1	16.3	29.0	22.5	683.6	55.1	117.4	3.7
7	Почвы	96.0	70.4	16.7	23.7	30.5	692.5	56.6	120.0	4.4
8	Почвы	97.7	63.5	16.5	27.3	26.0	685.9	52.5	116.4	3.9
9	Почвы	97.4	65.9	16.6	24.9	31.3	697.7	54.3	118.7	3.4
10	Почвы	99.8	74.4	16.6	22.1	26.6	686.8	55.3	118.2	3.6
11	Почвы	97.3	66.9	16.5	22.0	26.5	682.2	56.4	116.9	5.7
Реальная стоимость образца		96.0	62.0	14.2	20.4	21.0	680.0	55.5	109.0	4.3
Средняя		97.1	67.2	16.4	24.4	27.3	688.9	54.4	117.9	4.4
Стандартное отклонение-Sn		1.61	3.07	0.18	2.67	2.39	4.79	1.62	1.18	0.64
Rsd		1.655%	4.567%	1.082%	10.961%	8.754%	0.695%	2.972%	0.997%	14.655%

Что такое XRF

Шаг 1: Когда рентгеновский фотон достаточной энергии поражает атом, он вытесняет электрон из одной из своих внутренних оболочек (K в данном случае)

Шаг 2a: Атом заполняет вакантную оболочку K электроном из оболочки L; как электрон падает в более низком энергетическом состоянии, избыточная энергия высвобождается в качестве рентгеновского снимка

Шаг 2b: Атом заполняет вакантную оболочку K электроном из оболочки M; как электрон падает в более низком энергетическом состоянии, избыточная энергия высвобождается в качестве рентгеновского

Наши продукты и услуги помогают нашим клиентам решать сложные аналитические задачи, улучшать диагностику пациентов и повышать лабораторную производительность.

>Поддерживаемый

Телефонная и удаленная поддержка

Профилактическое техническое обслуживание и осмотры

Гибкие соглашения по уходу за клиентами

Сертификаты производительности

Модернизация оборудования и программного обеспечения

Местная и глобальная поддержка

>Обучение и образование

Обучение на месте или в наших центрах компетенций

Широкий спектр базовых и продвинутых курсов по продуктам, приложениям и программному обеспечению

Аналитические услуги и калибровочные материалы

Эксперт (XRF) анализирует услуги

Оксиды и анализ следов

Индивидуальные калибровочные материалы

http://ru.esi-xrf.com/